最可气的是它们还跟我抢妈妈，煎饼街我妈跟我坐在一起看电视，一只只全都来捣乱，非要我妈陪它们玩。

当引入具有比TU-3和P4小得多的pKa的BnOH时（红线，果攻陷Figure2b），可以去质子化。纽约获2016年浙江省杰出青年基金项目。

套煎浙江省科技厅社会公益技术项目1项。煎饼街聚合物的机械性能与其分子量（MW）和拓扑结构密切相关。图五、果攻陷在1.0当量TU-3存在下，果攻陷α-OBn，ω-OH-终止聚合物（BnO-[C（=O）CH2CH2CH2O]n+H+K+）的一个主要分布（Figure3a），通过对比在不存在TU-3的情况下，在低MW区域中观察到相当大量的大环聚合物（[C（=O）CH2CH2CH2O]n+K+）（Figure3b）。

纽约Scheme2.用P4/TU-3对提出γ-BL的ROP机理。套煎31PNMR（Figure2a）和1HNMR光谱（FigureS3）显示P4以化学计量方式完全去质子化TU-3。

煎饼街受邀撰写英文专著3章(Wiley和Elsevier出版社)。

果攻陷高分子量PγBLs显示出显着改善的机械性能。Fig.2In-situXRDanalysisoftheinteractionsduringcycling.（a）XRDintensityheatmapfrom4oto8.5oofa2.4mgcm–2cellsfirstcycledischargeat54mAg–1andchargeat187.5mAg–1,wheretriangles=Li2S,square=AQ,asterisk=sulfur,andcircle=potentiallypolysulfide2θ.(b)ThecorrespondingvoltageprofileduringtheinsituXRDcyclingexperiment.材料形貌表征在材料科学的研究领域中，纽约常用的形貌表征主要包括了SEM，纽约TEM，AFM等显微镜成像技术。

散射角的大小与样品的密度、套煎厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件上显示出来。材料人组建了一支来自全国知名高校老师及企业工程师的科技顾问团队，煎饼街专注于为大家解决各类计算模拟需求。

近年来国际知名期刊上发表的锂电类文章要不就是能做出突破性的性能，果攻陷要不就是能把机理研究的十分透彻。因此，纽约原位XRD表征技术的引入，可提升我们对电极材料储能机制的理解，并将快速推动高性能储能器件的发展。